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集成电路电磁兼容测试的两种方法
- 2021-06-02 -

       1.

        集成电路相关技术作为一种很有前途的技术,已经成为世界上很有前途的高新技术。一个国家的集成电路发展水平可以衡量一个国家的整体科技水平,受到国家的高度重视,特别是在集成电路芯片研发领域。

        近年来,国内越来越多的研究机构、高校、IC企业的研发部门逐渐关注和从事集成电路电磁兼容的研究。

        目前,国外对icemc的相关研究起步较早,发展迅速,已形成了较为完善的理论体系和先进的试验研究设备,如欧洲的法国、德国和美国,亚洲的韩国、日本和新加坡等。

        目前,国内icemc的相关研究主要集中在国防科技大学、浙江大学、解放军信息工程大学、微电子研究所、中科院等高校和科研院所,近年来也取得了重要成果。

        2.电磁灵敏度

        电磁兼容分为电磁干扰(EMI)和电磁灵敏度(EMS)。简而言之,EMI是指被测设备产生的影响其他设备正常工作的电磁辐射,EMS是指设备抵抗外界电磁辐射干扰的能力。

        目前,电磁敏感性试验分为传导、辐射、静电放电、电快速脉冲、浪涌等几个项目。本文介绍了两种试验方法。

        3.电磁灵敏度试验方法

        3.1传导抗扰度

        传导抗扰度试验主要分为直接功率注入法和大电流注入法。介绍了直接功率注入法。

        在直接功率注入法中,干扰源产生干扰脉冲,然后通过功率放大器、定向耦合器和注入网络注入电磁兼容测试设备。根据故障判据判断设备的工作状态,确定注入电压。具体配置参考iec62132。

        

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